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LT2200E 激光粒度分析儀

更新日期:2024-01-10

產品型號:LT2200E

產品描述:  LT2200E激光粒度儀加持了偏振濾波專利技術,摒棄傳統的針孔和機械調整,實現高穩定激光偏振設置和空間濾波;真理光學首創的衍射愛里斑反常變化(ACAD)的補償修正技術的使用,使用戶無需選擇分析模式,即可在全粒徑范圍獲得準確可靠的粒度結果。

真理光學技術團隊具有超過二十年的粒度表征及應用開發的經驗,曾研發出中國第一臺商用激光粒度分析儀,在全球享有很高的聲譽。LT2200E是真理光學基于多年的科研成果開發的新一代超高速智能激光粒度分析系統,其多項技術性能和指標均超過當前激光粒度儀的最高水平,成為當今粒度儀市場具有極高性價比的產品。

 

LT2200E加持了以下多項創新和專利技術:

 偏振濾波技術*

 衍射愛里斑反常變化(ACAD)的補償修正技術

 斜入射反傅里葉光路配置

 格柵式大角度檢測陣列技術

 粒度分析模式優化及自適應技術

 連續液位感知及控制技術

 高靈敏度光能跟蹤及穩定技術

 

LT2200E光學測量系統的卓越性能還包括:

完全符合ISO13320衍射法測量技術標準

◆ 獨特的光路配置,超大連續的物理測量角度
◆ 改進型反演算法,用戶無需選擇“分析模式”,兼顧極高的分辨率和穩定性
◆ 無需更換透鏡,無需使用標準樣校準,量程范圍達到0.1微米至1200微米
◆ 采用全息信號同步處理技術,實時測量速度最高達每秒20000次,不漏檢任何形狀和分布顆粒的衍射信息
◆ 采用自動溫度恒定技術的超高穩定固體激光光源系統,徹底克服了氦氖氣體激光器預熱時間長,使用壽命短的缺點
◆ 采用偏振空間濾波技術,徹底摒棄導致機械和熱穩定性差的針孔濾波器


注:* 文中關聯之專利技術為我司應產品性能需要使用不限于下述部分或全部專利技術,最終解釋權歸真理光學所有。真理光學為ZL201720195784.7/ZL201720374474.1/ZL201720189750.7/ZL201621332818.4/ZL201810552388.4/ZL201921219223.1/ZL201911071791.6/ZL202121718637.6/ZL202122186274.2專利權持有人。

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